項目

溫度

時間

其他

高溫試驗-1

70℃/40～50%R.H.

120小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

高溫試驗-2

70℃

240小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

高溫試驗-3

80℃

1000小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

低溫試驗-1

-20℃

120 小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

低溫試驗-2

-20℃

240 小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

低溫試驗-3

-40℃

1000小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

高溫高濕試驗-1

60℃/90～95%R.H.

-

96小時(必須沒有水凝結(jié)于待測品)，然后離開至室溫下靜置2小時再行測試(絕緣阻抗值必須要有1MΩ數(shù)值)，24小時之后在測一次。

高溫高濕試驗-2

60℃/90%RH

120小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

高溫高濕試驗-3

70℃/90%RH

1000小時

試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測
試，24小時之后在測一次。

高溫高濕試驗-4

60℃/95%RH

-

240小時，試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測
試，24小時之后在測一次。

冷熱沖擊試驗-1

-20℃(30分鐘)
↓
70℃(30分鐘)

-

10 cycle，試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

冷熱沖擊試驗-2

-20℃(30分鐘)
↓
80℃(30分鐘)

-

10 cycle，試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

冷熱沖擊試驗-3

-20℃(1小時)
↓
80℃(1小時)

-

10 cycle，試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

冷熱沖擊試驗-4

-40℃(30分鐘)
↓
80℃(30分鐘)

-

100 cycle，試驗結(jié)束后室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后在測一次。

蒸汽老化試驗

100℃/100%R.H/1000min

-

-

觸控式面板單點測試
(單點壽命)
(敲擊壽命)

-

1.以250g、8mm半徑的Silicon手指，每秒兩次打擊在觸控?zé)赡煌稽c上，并且觸控?zé)赡灰拥接嬎銠C系統(tǒng)，且要再通電的情況下測試。
2.1千萬次以上
3.≧1,000,000次(依照不同測試方法)

觸控式面板書寫測試
(劃線測試)
(筆劃壽命)

-

1.以250g、8mm半徑的無水筆，在一吋的在線來回測試，并且觸控?zé)赡灰拥接嬎銠C系統(tǒng)，且要再通電的情況下測試。
2.10萬次以上

觸控式面板表面硬度

-

3H以上

觸控式面板透光度

類比式：80﹪以上
數(shù)位式：76﹪以上

觸控式面板線性

-

＜1.5﹪